対象製品：
　アナログ入出力デバイスにおいて、
　外部サンプリングクロック（TTLレベル信号仕様）の下記入力端子が存在する製品
　・外部サンプリングクロック端子 （External Sampling Clock Input）
　
関連情報：
　外部サンプリングクロック（以下、外部クロック）使用時の「サンプリングクロック周期エラー」の多くは、
　下記が発生パターン、原因となります。
　
　■ 発生パターン：
　・入力信号波形が検出周波数：40M [Hz] (＊：例外製品あり) に対し、なだらかな立ち上がり下がり信号の場合。
　（＊）
　　◆ 200M [Hz]：
　　　・Gシリーズ：
　　　　AIO-163202UG-PE, AIO-163202G-PE, AIO-123202UG-PE, AIO-123202G-PE, AIO-1664UG-PE
　　　・AI-1204Z-PE, AI-1204Z2-PCI
　　◆ 80M [Hz]：
　　　・AI-1204Z-PCI
　■ 原因：
　　外部クロックのノイズ、チャタリングが、瞬間的にクロックとして検知されたことに因るエラーです。
　　その信号に対しての Hi / Low判定が短時間で連続すること( = 高周波成分) により、
　　速いクロック周期の入力と認識された為。
　
　例えばエンコーダ（オープンコレクタ接続仕様）からの信号においては、その接続仕様上、
　弊社デバイス側に対し、上記の信号波形入力となり易い傾向にあります。
　
　本現象の回避方法としては、
　下記のような回路を外部に付加し、外部サンプリングクロックへの信号波形を整形する手法が考えらえます。
　


　掲載回路例では、オープンコレクタ出力の信号をサンプリングクロック信号としています。
　なだらかな立ち上がり下がり信号を綺麗な矩形波信号に整形し、
　コンデンサにより、その信号のノイズを除去するイメージです。
　
　図のコンデンサ前後のIC は74LS14 のようなシュミットトリガタイプのIC の方が有効です。
　トランジスタのコレクタに接続されている抵抗は、トランジスタの出力特性に応じて選択してください。
　またコンデンサの値は、100[pF]～0.1[μF] の間で波形に応じて最適な値を選択してください。
　
　なお、上記切り分け方法としては、
　信号元を、例えば精度の良いクロックジェネレータ等に変更しての確認も有効です。